l 智能化软件操作:可自定义测量方式和角度，实时显示测量样品关注波长位置的透/反射率数据，自动调整显示坐标范围，高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。
l 谱图管理:可同时记录多达20个样品谱图，批量保存测量结果，记录谱图测试积分时间，能对谱图进行更名、定义颜色、选择是否显示、加粗等操作，地方便了谱图的管理和分析。
l 自定义测量方案:用户可以自行定义测量的方案，同时设置判定标准，使检测更快速，结果更准确。
l 谱图数据处理功能:备有丰富的光学元件数据库，可根据数据库已存标准数据对比分析结果，用户可自行对数据库进行添加、修改和删除，还可将测量数据导入Excel有利于进一步对谱图进行分析和研究。
l CIE颜色测量功能:可以计算样品各种CIE颜色参数， x，y，L,a,b,饱和度，主波长等。
l 数据报告打印功能:可快速批量打印样品测量数据及谱图，自定义测量报告出具单位名称。
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